강의계획서
| 교과목코드 | SE230004 | 교과목명 | 반도체테스트공학 |
|---|---|---|---|
| 강의학과 | 반도체공학과 | 교수 | 김유빈 |
| 교수소속 | 반도체공학부 | 이수학년 | |
| 과목구분 | 과정구분 | 석·박사공통 | |
| 이메일 | ybkim76@mju.ac.kr | 전화번호 |
| 주차 | 주제 |
|---|---|
| 1주차 | Course Overview |
| 2주차 | Test Process 및 개괄 |
| 3주차 | Logic Simultation |
| 4주차 | Testability |
| 5주차 | Fault Modeling |
| 6주차 | Fault Simulation |
| 7주차 | ATPG (Automatic Test Pattern Generation) |
| 8주차 | Midterm Exam |
| 9주차 | 테스트 특강 1 |
| 10주차 | 테스트 특강 2 |
| 11주차 | Design for Testability |
| 12주차 | BIST |
| 13주차 | Technical Issues and discussion I |
| 14주차 | Technical Issues and discussion II |
| 15주차 | Final Exam |
| 16주차 |